Список сокращений

ДИ

дефектное изделие.

МЭК

Международная электротехническая комиссия.

СДДИ

средняя доля дефектных изделий.

СДС

средняя длина серии.

с.к.о.

среднеквадратическое отклонение.

ТБ

точка безубыточности.


AFD

Average Fraction Defective — средняя доля дефектных изделий.

AOQ

Average Outgoing Quality — среднее выходное качество.

AOQL

Average Outgoing Quality Limit — предел среднего выходного качества.

ARL

Average Run Length — средняя длина серии контрольной карты.

ATI

Average Total Inspections — средний объем контроля.

BEP

Break-Event Point — точка безубыточности.

CL

Center Line — центральная линия контрольной карты (совпадает с общим средним значением $\bar{\bar{x}}$ для карт средних арифметических значений или со средним размахом $\bar{R}$ для карт размахов).

CPL

частный индекс настройки по нижней границе.

CPU

частный индекс настройки по верхней границе.

DPB

defects per billion — число дефектов на миллиард (биллион).

DPM

defects per million — число дефектов на миллион.

EOQC

European Organization for Quality Control — Европейская организация контроля качества.

IEC

International Electrotechnical Commission — Международная электротехническая комиссия.

ISO

International Organization for Standardization — Международная организация по стандартизации.

LCL

Lower Control Limit — нижняя контрольная граница контрольной карты.

LSL

(Lower Specification Limit) — наименьшее предельное значение контролируемого параметра или нижняя граница допуска.

LWL

Lower Warning Limit — нижняя предупредительная граница контрольной карты

UCL

Upper Control Limit — верхняя контрольная граница контрольной карты.

USL

Upper Specification Limit — наибольшее предельное значение контролируемого параметра или верхняя граница допуска.

UWL

Upper Warning Limit — верхняя предупредительная граница контрольной карты.